|
|
ÀÚ¿¬°úÇÐ ºÐ·ù¿¡´Â ÃÑ 1,285°³ÀÇ ÄÁÅÙÃ÷°¡ ÀÖ½À´Ï´Ù. |
    |
|
ÀÚ¿¬°úÇÐ |
RLC ȸ·Î |
 |
1,000¿ø |
|
ÀÚ¿¬°úÇÐ |
RCȸ·Î¿¡¼ÀÇ ÃæÀü, ¹æÀü °úÁ¤ |
 |
1,000¿ø |
|
ÀÚ¿¬°úÇÐ |
RCȸ·Î¿¡¼ÀÇ Ãæ, ¹æÀü °úÁ¤ |
 |
1,000¿ø |
|
ÀÚ¿¬°úÇÐ |
RCȸ·Î ¹× ½Ã»ó¼ö ½ÇÇè º¸°í¼ |
 |
1,000¿ø |
|
ÀÚ¿¬°úÇÐ |
RC Àú¿ªÅë°ú ¹× °í¿ªÅë°ú ÇÊÅÍ |
 |
1,000¿ø |
|
ÀÚ¿¬°úÇÐ |
quark[ÄõÅ©]- ¿À´Ã³¯ÀÇ ¼Ò¸³ÀÚ |
 |
1,000¿ø |
|
ÀÚ¿¬°úÇÐ |
PLC Á¶»ç |
 |
1,000¿ø |
|
ÀÚ¿¬°úÇÐ |
Photolithography¸¦ ÀÌ¿ëÇÑ patternÇü¼º |
 |
1,000¿ø |
|
ÀÚ¿¬°úÇÐ |
P.L.C - Programmable Logic Controller¿¡ ´ëÇØ¼ |
 |
1,000¿ø |
|
ÀÚ¿¬°úÇÐ |
Oscilloscope[¿À½Ç·Î½ºÄÚÇÁ ÆÄµ¿½ÇÇè] ¹× DC ȸ·Î |
 |
1,000¿ø |
|
ÀÚ¿¬°úÇÐ |
Okazaki fragment[¿ÀÄ«ÀÚŰ ´ÜÆí]ÀÇ Á¸Àç Áõ¸í |
 |
1,000¿ø |
|
ÀÚ¿¬°úÇÐ |
Non Destructive Testing[NDT]-ºñÆÄ±« °Ë»çÀÇ Á¾·ù¿Í |
 |
1,000¿ø |
|
ÀÚ¿¬°úÇÐ |
NK Cell [ÀÚ¿¬Å³·¯¼¼Æ÷]¿Í ¾Ï ¹ß»ý°úÀÇ °ü°è¸¦ ±Ô¸í |
 |
1,000¿ø |
|
ÀÚ¿¬°úÇÐ |
Moment of intertia [°ü¼º¸ð¸àÆ®]½ÇÇè |
 |
1,000¿ø |
|
ÀÚ¿¬°úÇÐ |
Mohr¹ý¿¡ ÀÇÇÑ ¿°È¹°ÀÇ Á¤·® |
 |
1,000¿ø |
|
ÀÚ¿¬°úÇÐ |
Lowry, Kjeldahl ¹ýÀ» ÀÌ¿ëÇÑ ´Ü¹éÁú Á¤·® |
 |
1,000¿ø |
|
ÀÚ¿¬°úÇÐ |
HPLC ÀÌ·Ð ¹× ½ÇÇè¹ý |
 |
1,000¿ø |
|
ÀÚ¿¬°úÇÐ |
HEC-RAS¸¦ ÀÌ¿ëÇÏ¿© ¿Âõõ À¯¿ª¿¡ ´ëÇÑ ¼ö¸® ºÐ¼® |
 |
1,000¿ø |
|
ÀÚ¿¬°úÇÐ |
GPC ºÐ¼® |
 |
1,000¿ø |
|
ÀÚ¿¬°úÇÐ |
FETƯ¼º ¹× ÁõÆø±â |
 |
1,000¿ø |
|
 |
|
|